Направления исследований Направления

    Международный научный центр функциональных материалов и устройств оптоэлектроники и электроники

    Разработка, создание и изучение свойств функциональных материалов, с улучшенными свойствами, включая электро- и теплопроводность, прочность и долговечность, с последующим применением в устройствах микро-, нано- и оптоэлектроники нового поколения

    Транснациональный научно-образовательный UniFEL центр перспективных методов исследования материалов

    Разработка новых методов исследования структуры и функциональных свойств наносистем с высоким пространственным, энергетическим и временным разрешением с помощью комплекса методов, включающих рентгеновский лазер на свободных электронах (европейская и другие установки XFEL)

      Новости

      Последние публикации Публикации

      2017 год
      • Prasolov N.D.

        Прасолов Н.Д.Molecular dynamics simulations of GaAs-crystal surface modifications during nanoindentation with AFM probe//Participant's Abstracts, IET - 2017, pp. 62

      • Liubimova I.., Kustov S.., Corro M.L., Torrens-Serra J.., Recarte V.., Perez-Landazabal J..

        Любимова Ю.В. Scaling of low field magnetoelastic hysteresis in antiferromagnetic Dy // MATERIALS PHYSICS AND MECHANICS - 2017, Vol. 32, No. 1, pp. 43-50

      • Kartasheva N.I., Liubimova I.., Salas D.., Kustov S..

        Kartasheva N.I., Liubimova I., Salas D., Kustov S. Dynamic magnetic characteristics during martensitic transformations in NiMnInCo metamagnetic shape memory alloy // Materials Today: Proceedings - 2017, Vol. 4, No. 3, pp. 4768-4772

      • Лещенко Е.Д., Дубровский В.Г.

        Неоднородное распределение легирующей примеси в III-V нитевидных нанокристаллах // Физика и техника полупроводников - 2017. - С. в печати

      • Мавлютов А.М., Латынина Т.А., Мурашкин М.Ю., Валиев Р.З., Орлова Т.С.

        Влияние отжига на микроструктуру и механические свойства ультрамелкозернистого технически чистого Al // Физика твердого тела - 2017. - Т. 59. - № 10. - С. 1949-1955

      • Kremleva A.V., Kirilenko D.A., Bougrov V.E., Romanov A.E., Nikolaev V.I., Odnoblyudov M.A.

        Extended defects in epitaxial layers of (AlxGa1-x)2O3 grown on sapphire substrates//29th International Conference on Defects in Semiconductors, IET - 2017

        Партнеры

        Информация © 2015-2017 Университет ИТМО
        Разработка © 2015 Департамент информационных технологий